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高级测控系统综合实验设备

更新时间:2024-06-16

简要描述:

高级测控系统综合实验设备能满足传感器与检测技术课程群的实验需求,并且具有占用空间小、挂箱设计规范、互换性强,从基本实验到构成完整系统在一台实验装置上便可以全部实现。避免了不同课程需要不同实验装置、占用空间大、难以构成完整系统、不方便实施综合性和设计型实验的麻烦。

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一、高级测控系统综合实验设备概述:
1.实验平台能满足传感器与检测技术课程群的实验需求,并且具有占用空间小、挂箱设计规范、互换性强,从基本实验到构成完整系统在一台实验装置上便可以全部实现。避免了不同课程需要不同实验装置、占用空间大、难以构成完整系统、不方便实施综合性和设计型实验的麻烦。
2.能适应不同专业和不同层次的教学需要,可按不同需求选择不同的配置,并可根据用户的要求增添实验挂箱。
3.实验装置能完成传感器与检测技术相关课程实验,通过实验能掌握各种传感器原理、信号处理电路及检测方法。
4.传感器部分:包括压力、压电、应变、电容、霍尔、温度、光敏、气敏(酒、C0)、电涡流、光纤位移、长光栅位移、差动变压器、光电耦合等各种常见传感器。
5.检测部分:利用工业实际中广泛采用的成熟电路完成对各种传感器信号的拾取、转换、调理、采样、存储、解算、控制及显示等处理电路,实验装置充分考虑抗干扰及可靠性技术的应用,学生可以学以致用。
6.通过使用本实验平台,有利于广大学生对书本知识的理解和深化,在完成传感器与检测技术等一系列基本实验后,便能掌握传感器与检测技术课程群所要求的基本原理、操作技能和动手能力。若再完成一个或几个综合型实验,则对系统有一个较为全面的认识,形成基本的解决实践问题的知识体系。如果能进一步完成设计型乃至创新型实验,则将形成解决实践问题的能力和积累解决实践问题的经验,进而培养其创新精神和创新能力。
二、高级测控系统综合实验设备特点:
1.模块化设计:采用标准的模块化设计,增强系统的结构性和互换性。
2.总线标准:建立统一的内总线和接口约定,以实现最灵活的个性化配置、扩展和系统管理。
3.可更换的核心系统:为适应不同厂家的处理器、不同种类的处理器,通过改变系统核心卡来实现使用不同家族的单片机或者是不同种类的处理器(如MCU、DSP、ARM)等来组成系统。
4.快速连接线设计:提供三种连线方式
①采用金质缩紧孔单线接线;
②采用排线集中接线;
③自动免连线模式接线。各模块在设计时均融入三种连线方式于设计过程。
5.一机多用:采用实验现场与实验准备室相结合的设计构思,在实验装置上仅配备常用的模块,在实验装置内放置次常用模块,在实验准备室中放置其他模块。由此实现了该实验装置能够实现一机多用、便于扩展和综合的目标。
6.接近工程实际:实验装置上采用多种工业型传感器,既可以用来完成传感器原理、结构与调理电路的教学,也可以用解决工业工程和过程中的实际问题。
7.学以致用:构成实验装置中的智能仪器的各模块,在其设计时充分体现实际系统的抗干扰设计技术和可靠性设计技术,其核心卡可作为实际智能仪器的核心单元。实验装置中信号转换与信号调理电路采用工业和工程实际中所采用的成熟电路。实验装置中使用的各种数字信号处理方法,采用典型的也是未来实践系统的数字信号处理手段,具有很强的工程实用特征。
8.持续发展:结合单片机、嵌入式单片、FPGA/CPLD、DSP及ARM知识可以将检测系统或智能仪器提高到更高的层次。
9.智能仪器仪表设计:结合工程实际给出了一个将常规仪器实现智能化的实例。
10.虚拟仪器仪表设计:结合数据采集卡设计虚拟仪器仪表。
11.研究与创新能力培养:实验装置中选用的几项综合型实验,是典型的检测仪表或工业应用系统的微型化,既能够使学习者领略检测技术的典型应用和掌握成熟可靠的检测系统的设计技术,又是培养和发挥学生创新能力、开展创新实验的实验平台。
l2.开放式设计:实验装置中的软、硬件及系统均按照全开放的思想进行设计,以便于学生开展研究型和创新型的实验。
13.最小知识单元:为每个模块均可拆分到该知识层次的最小知识单元。
三、适用范围:
实验台主要针对高校大学生课程设计、毕业设计和电子设计竞赛的开发平台,体现了灵活、开放、创新、综合、跨领域、跨专业的设计理念。其功能扩展模块覆盖了多个专业多门课程,适合电子类、通信类、自动化类、计算机类、机电类、测控仪器类等专业的学生进行综合、创新设计。
四、结构简介:
本装置由控制屏,实验桌、活动挂箱及扩展模块、实验箱组成。实验台美观大方,尺寸可选;活动挂箱包括CPU挂箱、接口挂箱、对象挂箱、ARM挂箱、DSP挂箱;其功能扩展模块覆盖了多个专业多门课程,包含CPU类、通用接口类、人机界面类、信号变换隔离类、通信类、执行机构类、传感器类共40多项。
五、技术指标
1.输入电源:单相三线220V±10%  50Hz
2.工作环境:温度10℃~+40℃相对湿度<85%(25℃)  海拔<4000m
3.绝缘电阻:大于3MΩ
4.漏电保护:漏电动作电流不大于30mmA,动作时间不大于0.1秒
5.装置容量:<200VA
6.外形足寸:1620mm×750mm×1600mm,以实物为准。
、实验挂箱具体硬件资源
1.控制器单元挂箱:挂箱主要用于插接不同的CPU模块。挂箱上包含了CPU模块的接口插座和基本实验电路及系统扩展电路,可单独完成大部分的基本实验,挂箱上有三个(40P、40P、20P)扁平电缆接口槽用于和其他挂箱连接。挂箱上的资源如下:  

1)8155接口模块
2)8255接口模块
3)8279键盘显示接口模块
4)8253可编程定时器模块
5)硬件看门狗电路模块
6) I2C EEROM模块
7)8250模块
8)8251模块

9)I2C存储器模块
10)I2C时钟模块
11)单次脉冲模块
12)93C46串行EEPROM模块
13)红外线收发模块
14)DS18B20数字温度传感器模块
15)开关量输入模块
16)关量输出模块

2.信号转换单元挂箱
挂箱上有三个(40P、40P、20P)扁平电缆接口槽用于和控制器单元挂箱信号连接。
3.通信与打印机单元挂箱:挂箱上有三个(40P、40P、20P)扁平电缆接口槽用于和其他挂箱信号连接,打印机装在挂箱的底板上。
4.显示与键盘单元挂箱:挂箱上有三个(40P、40P、20P)扁平电缆接口槽用于和其他挂箱信号连接。
5、对象挂箱(一) :挂箱上有三个(40P、40P、20P)扁平电缆接口槽用于和其他挂箱信号连接。
6、对象挂箱(二) :挂箱上有三个(40P、40P、20P)扁平电缆接口槽用于和其他挂箱信号连接。
7、 ARM9单元挂箱
1)CPU模块:(三星S3C2410微处理器,ARM9内核,可稳定运行多种嵌入式实时操作系统。)
2)面板包括资源(标准配置)
8、DSP CPU 挂箱: 采用TI公司的TMS320VC5416芯片。
1)主CPU(DICE-5416EVM)模块

2) 图象、语音AD/DA模块
3)通讯模块
4)温度、 电机控制模块

5)信号源模块
6)键盘显示模块
八、基本实验项目
(一)传感器实验项目

(1)金属箔式应变片一单臂电桥性能实验
(2)金属箔式应变片一半桥性能实验 
(3)金属箔式应变片一全桥性能实验 
(4)直流全桥的应用一电子秤实验   
(5)交流全桥的应用一振动测量实验 
(6)扩散硅压阻压力传感器差压测量实验
(7)差动变压器的性能实验
(8)激励频率对差动变压器特性的影响实验
(9)差动变压器零点残余电压补偿实验  
(10)差动变压器的应用一一振动测量实验

(二)单片机实验项目
1、MCS-51单片机实验项目:
软件部分实验:

1.清零程序
2.拆字程序
3.拼字程序
4.数据区传送子程序
5.数据排序实验

6.查找相同数据个数
7.无符号双字节快速乘法子程序
8.多分支程序
9.多分支程序
10.电脑时钟实验

2.嵌入式单片机(C8051)实验

(1) 数字I/O口交叉开关设置实验     
(2) UART串能通讯实验
(3) 配置内部和外部振荡器实验
(4) 片内模数转换(ADC)实验
(5) I/O输入、输出实验
(6) 片内数模转换(DAC)实验

(7) 定时器实验
(8) SRAM外部数据存储器扩展实验
(9) 外部中断实验
(10) SPI串行Flash存储器数据读写实验
(11) 计数器实验

3、DSP实验:
 A、验证性实验
1)CCS操作实验
2)存储器实验
3)跑马灯实验
4)数码显示实验
5)硬件中断实验
6)定时器实验
7)步进电机控制实验
8)DSP同步串口与计算机的串口(RS232)通讯
9)DSP的HPI与计算机的并口(EPP)通讯
10)向量相加、减实验
B、综合性实验:
16)液晶显示实验
17)简单数字存储示波器实验
18)同步串口(16位AD、DA)实验
19)HPI接口实验
20)自适应滤波器(DLMS)实验
21)卷积(convole)算法实验
22)自相关算法
23)互相关算法
24)语音录、放实验
25)实时IIR滤波器实验
26)图像处理之图像取反
27)图像处理之灰度阈值变换
C、设计性实验
28)直流伺服电机测速控制实验
29)温度传感器、液晶显示实验
30)HPI接口BOOTLOAD实验
31)在线FLASH烧写及16或8位并行自举
32)快速傅立叶变换(FFT)算法实验
33)信号采集、存储、传输(PC机与DSP)实验
D、创新性实验:
39)声控电机实验
40) 语音G711编码、解码实验
41)语音G723编码、解码实验
42)图像处理之灰度窗口变换
43)图像处理之对比度增强
44)YUV彩色图象处理之图象取反实验
4、ARM9实验项目:
基础实验:
1)安装WINCE并建立开发环境
2) 建立并编译WIN CE平台
3)WINDOWS CE的烧写
4)定制SDK并建立EVC下的开发环境
5)定制增强型内核
6)建立宿主机与实验箱的连接
7)继电器实验
8) 蜂鸣器实验
9)DIP实验
10)IIC总线—温度实验
11) IIC总线—EEPROM实验 
12) IIC总线—DA实验
13)EXTKEY中断程序
14)GPIO LED实验
15)LED点阵实验
16)EVC下的HELLO WORLD实验
17) 液晶屏坏点测试程序
18) 录音机测试程序
19) 简单程序(CE版)
20) 视频点播VOD实验 
21)CEPLAYER播放器实验 
22) 串口通讯测试程序(对话框版)
扩展实验:
23)485通讯程序
24) GPS实验
25) 电机实验
26) 射频卡实验 
27) 摄像头图像采集实验 
28) GPRS实验
29) ZIGBEE实验
30) 指纹实验
31) CAN总线通讯实验
5.综合类实验

1)键盘、LED发光管实验
2)行列式键盘、动态显示实验
3)单片机控制的PWM实现D/A转换 
4)单片机控制PWM实现F/V转换 
5)测量电机转速实验
6)单片机控制电机转速实验(D/A)
7)单片机控制电机转速实验(PWM)
8)温度采集实验
9)IC卡原理实验 
10)考勤机实验

6.信号与系统部分

1)基本运算单元实验
2)阶跃响应与冲激响应实验
3)连续时间系统的模拟实验
4)有源、无源滤波器实验
5)抽样定理与信号恢复实验
6)二阶网络状态轨迹的显示实验
7)一阶电路的暂态响应实验

8)二阶电路的暂态响应实验
9)二阶电路传输特性实验
10)二阶网络函数的模拟实验

7.自控原理与计算机控制
1)计算机控制技术实验项目

1)A/D,D/A转换
2)采样保持器
3)数字滤波 
4)积分分离式PID控制
5)最小拍有纹波系统实验

6)最小拍无纹波系统实验
7)大林算法控制
8)非线性控制
9)解耦控制
10)综合控制实验

2)自动控制原理实验项目

1.典型环节的模拟研究
2. 典型系统瞬态响应和稳定性
3.系统校正
4. 控制系统的频率特性
5.典型非线性环节

6. 非线性系统(一)
7.非线性系统(二)
8. 采样系统分析
9.采样控制系统的校正
l0. 状态反馈(极点配置)

3)控制系统实验项目
1.直流电机闭环调速实验
2.温度闭环控制实验
3.步进电机调速实验
8.测控电路实验

1.差动放大器实验;
2.信号放大器实验;
3.信号运算电路实验;
4.电压比较器实验;
5.电阻链分相细分实验;
6.幅度调制及解调实验

7.调相电桥实验;
8.脉宽调制电路实验;
9.调频及鉴频实验; 
11.开关式相乘调制及解调实验;  
12.精密整流全检波实验;
13.开关式全波相敏检波实验。


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